Method for forming integrated circuits using high aspect ratio vias through a semiconductor wafer

   
   

An integrated circuit and method for forming the same. The integrated circuit includes a semiconductor wafer with first and second surfaces. A functional circuit is formed on the first surface of the semiconductor wafer. Further, a metallization layer is formed outwardly from the first surface of the semiconductor wafer. The integrated circuit also includes at least one high aspect ratio via that extends through the layer of semiconductor material. This via provides a connection between a lead and the functional circuit.

Интегрированная цепь и метод для формировать эти же. Интегрированная цепь вклюает вафлю полупроводника с сперва и вторые поверхности. Функциональная цепь сформирована на первой поверхности вафли полупроводника. Более потом, слой металлизирования сформирован наружно от первой поверхности вафли полупроводника. Интегрированная цепь также вклюает по крайней мере один высокий коэффициент сжатия через то проходит через слой материала полупроводника. Это через предусматривает соединение между руководством и функциональной цепью.

 
Web www.patentalert.com

< Apparatus and method for synthesizing films and coatings by focused particle beam deposition

< Method of fabricating micromachined devices

> Molded part of ceramic material derived from polymers, process for producing ceramic molded parts and sliding element having a molded part

> Method for regenerating a zeolitic catalyst

~ 00105