A practical system and method for precisely measuring low-level
birefringence properties (retardance and fast axis orientation) of optical
materials (26). The system permits multiple measurements to be taken
across the area of a sample to detect and graphically display (100)
variations in the birefringence properties across the sample area. In a
preferred embodiment, the system incorporates a photoelastic modulator
(24) for modulating polarized light that is then directed through a sample
(26). The beam ("Bi") propagating from the sample is separated into two
parts, with one part ("B1") having a polarization direction different than
the polarization direction of the other beam part ("B2"). These separate
beam parts are then processed as distinct channels. Detection mechanisms
(32, 50) associated with each channel detect the time varying light
intensity corresponding to each of the two parts of the beam. This
information is combined for calculating a precise measure of the
retardance induced by the sample, as well as the sample's fast axis
orientation.
Un système et une méthode pratiques pour mesurer avec précision les propriétés de bas niveau de biréfringence (retard et orientation rapide d'axe) des matériaux optiques (26). Les mesures multiples de laisux de système à prendre à travers le secteur d'un échantillon pour détecter et montrer graphiquement (100) variations des propriétés de biréfringence à travers le secteur d'échantillon. Dans un mode de réalisation préféré, le système incorpore un modulateur photoelastic (24) pour moduler la lumière polarisée qui est alors dirigée par un échantillon (26). Le faisceau ("Bi") propageant de l'échantillon est séparé dans deux parts, avec une part ("B1") ayant une direction de polarisation différente que la direction de polarisation de l'autre pièce de faisceau ("B2"). Ces pièces séparées de faisceau sont alors traitées en tant que canaux distincts. Les mécanismes de détection (32, 50) liés à chaque canal détectent le temps changer l'intensité de la lumière correspondant à chacune des deux parties du faisceau. Cette information est combinée pour calculer une mesure précise du retard induit par l'échantillon, aussi bien que l'orientation de l'axe de l'échantillon rapidement.
