Testing of an electronic system is optimized by using a single set of sub-tests and varying the testing sequence to produce tests tailored for different purposes such as screening and diagnostic testing. For example, a programmable test sequencer in the electronic system responds to a test selection variable by using a first sequence of the sub-tests to optimize the testing process for screening and a second sequence of the sub-tests to optimize the testing process for diagnostic testing. In the diagnostic mode, the sub-tests are run so that each sub-test builds upon the previous sub-tests and uses previously-tested hardware to verify additional hardware. In the screening mode, the sub-tests are the same, but the execution order of the sub-tests is reversed so that more complex hardware is tested first as a screening mechanism.

Die Prüfung eines elektronischen Systems wird optimiert, indem man einen einzelnen Satz Vor-Tests verwendet und die Prüfung Reihenfolge verändert, um die Tests zu produzieren, die zu den unterschiedlichen Zwecken wie Siebung und Diagnoseprüfung hergestellt werden. Z.B. reagiert eine programmierbare Testanreihung im elektronischen System auf eine Testvorwählervariable, indem sie eine erste Reihenfolge der Vor-Tests verwendet, um den prüfenprozeß für Siebung und eine zweite Reihenfolge der Vor-Tests zu optimieren, um den prüfenprozeß für die Diagnoseprüfung zu optimieren. In den Diagnosemodus werden die Vor-Tests gelaufen, damit jeder Vor-Test Bauten nach den vorhergehenden Vor-Tests und dem Gebrauch Kleinteile vorhergehend-prüften, um zusätzliche Kleinteile zu überprüfen. Im Rastermodus sind die Vor-Tests dieselben, aber der Durchführung Auftrag der Vor-Tests wird aufgehoben, damit kompliziertere Kleinteile zuerst als Siebungeinheit geprüft werden.