A CAM testing procedure detects storage logic faults, comparison logic faults, and faults caused by interactions between the storage and comparison logic for both single port and dual port CAM's. To uncover faults in the storage logic, a series of read and write operations are performed, either using a standard test sequence, such as the March C algorithm, or any other desired test sequence. The CAM test, however, intermixes comparison operations with the read and write operations to uncover faults in the comparison logic. For dual port memories, the test sequence comprises executing comparison operations concurrently with the read and/or write operations, thus revealing faults between the storage and comparison logic. For single port memories, the test sequence comprises performing a comparison operation following the read/write operations at each address, immediately verifying the comparison logic at each address.

Un metodo di prova della CAMMA rileva i difetti di logica di immagazzinaggio, i difetti di logica di confronto ed i difetti causati dalle interazioni fra l'immagazzinaggio e la logica di confronto per sia singolo orificio che orificio doppio CAM's. Per scoprire i difetti nella logica di immagazzinaggio, una serie di colto di e per scrivere i funzionamenti è realizzata, usando una sequenza di prova standard, quali la procedura marzo di C, o qualunque altra sequenza di prova voluta. La prova della CAMMA, tuttavia, mescola i funzionamenti di confronto con colta e scrive i funzionamenti per scoprire i difetti nella logica di confronto. Per le memorie di orificio doppio, la sequenza di prova contiene l'esecuzione dei funzionamenti di confronto contemporaneamente alla colta a e/o scrive i funzionamenti, così rivelare si incolpa fra l'immagazzinaggio e la logica di confronto. Per le singole memorie port, la sequenza di prova contiene realizzare un funzionamento di confronto che segue i funzionamenti letturi /scritturi ad ogni indirizzo, immediatamente verificante la logica di confronto ad ogni indirizzo.