Method and device for simultaneously determining the adhesion, friction, and other material properties of a sample surface

   
   

A process for the location-resolved simultaneous detection of the adhesion and friction as well as possibly of other material properties of a sample surface to be examined by means of a raster probe microscope comprising a raster probe. The raster probe and/or the sample with sample surface are moved until at a point of the sample surface to be examined the raster probe interacts in a determined manner with this surface. The raster probe and/or the sample are subjected to a vertical oscillation, and a first measuring signal characterized by the deformation of the raster probe is recorded. A second measuring signal characterizing the deformation of the raster probe is recorded, wherein the raster probe and/or the sample are subjected to a horizontal and/or vertical oscillation. From these two measuring signals the desired material properties are determined. For the detection of the entire surface area to be examined the raster probe and or the sample are again moved and for the repetition of the measuring process described brought into contact with the sample surface in the above described manner.

Een proces voor de plaats-vastbesloten gelijktijdige opsporing van de adhesie en de wrijving evenals misschien van andere materiƫle eigenschappen van een steekproefoppervlakte dat door middel van een microscoop van de roostersonde moet worden onderzocht bestaand uit een roostersonde. De roostersonde en/of de steekproef met steekproefoppervlakte worden bewogen tot op een punt van de steekproefoppervlakte om rooster worden onderzocht de sonde op een bepaalde manier met deze oppervlakte op elkaar inwerkt. De roostersonde en/of de steekproef worden onderworpen aan een verticale schommeling, en een eerste metend signaal dat door de misvorming van de roostersonde wordt gekenmerkt wordt geregistreerd. Een tweede metend signaal dat de misvorming van de roostersonde kenmerkt wordt geregistreerd, waarin de roostersonde en/of de steekproef aan een horizontale en/of verticale schommeling worden onderworpen. Van deze twee die signalen meten worden de gewenste materiƫle eigenschappen bepaald. Voor de opsporing van de volledige oppervlakte om rooster worden onderzocht wordt de sonde en of de steekproef opnieuw en voor de herhaling van het het meten beschreven proces bewogen dat in contact met de steekproefoppervlakte wordt gebracht op de hierboven beschreven manier.

 
Web www.patentalert.com

< Method of connecting a device to a support, and pad for establishing a connection between a device and a support

< Organo luminescent semiconductor nanocrystal probes for biological applications and process for making and using such probes

> Thermal-assisted nanotip magnetic memory storage device

> Apparatus, and kits for preventing of alleviating vasoconstriction or vasospasm in a mammal

~ 00174