Scanning probe microscope with improved scan accuracy, scan speed, and optical vision

   
   

A scanning probe microscope uses two different scanners (also called "scanning stages") that are completely detached each from the other, and are physically separated by a stationary frame. One scanner (called "x-y scanner") scans a sample in a plane (also called "x-y plane"), while the other scanner (called "z scanner") scans a probe tip (which is supported at a free end of a cantilever) in a direction (also called "z direction") perpendicular to the plane. Detachment of the two scanners from one another eliminates crosstalk.

Een microscoop van de aftastensonde gebruikt twee verschillende scanners (ook genoemd "aftastende stadia") die volledig elk van andere, worden losgemaakt en door een stationair kader fysisch gescheiden. Één scanner (genoemd "x-y scanner") tast een steekproef in een vliegtuig (ook genoemd af "x-y vliegtuig"), terwijl de andere scanner (genoemd "zscanner") een sondeuiteinde (dat op een vrij eind van cantilever) wordt gesteund in een richtings (ook genoemd "zrichting") loodlijn aan het vliegtuig aftast. Het detachement van de twee scanners elimineert van elkaar overspraak.

 
Web www.patentalert.com

< Positioning unit and positioning apparatus with at least two positioning units

< Semiconductor nanoparticles coated with electroactive polymers

> Drug delivery formulations and targeting

> Carborane supercluster and method of producing same

~ 00173