Electromigration risk analysis in integrated circuit power interconnect systems using pseudo dynamic simulation

   
   

Methods of and apparatuses for performing electromigration risk analyses of power interconnect systems in integrated circuits employ a pseudo dynamic simulation model, whereby all transistor gates of a transistor network coupled to the power interconnect system are switched at the same time. To accomplish simultaneity in switching, a netlist characterizing the transistor network is altered in a manner that all gates are connected to a common input signal node. Time dependent currents drawn by transistors of the transistor network connected to the power interconnect system are determined. The time dependent currents and dimensional characteristics gleaned from the layout of the integrated circuit are used to calculate peak, average, or RMS current densities. The current densities are compared to electromigration rules to determine what areas of the power interconnect system may be in violation of the electromigration rules.

Οι μέθοδοι και οι συσκευές για electromigration διακινδυνεύουν ότι οι αναλύσεις της δύναμης διασυνδέουν τα συστήματα στα ολοκληρωμένα κυκλώματα χρησιμοποιούν ένα ψευδο δυναμικό πρότυπο προσομοίωσης, με το οποίο όλες οι πύλες κρυσταλλολυχνιών ενός δικτύου κρυσταλλολυχνιών που συνδέεται με τη δύναμη διασυνδέουν το σύστημα μεταστρέφονται συγχρόνως. Για να ολοκληρώσει το ταυτόχρονο στη μετατροπή, ένα netlist που χαρακτηρίζει το δίκτυο κρυσταλλολυχνιών αλλάζουν με έναν τρόπο ότι όλες οι πύλες συνδέονται με έναν κοινό κόμβο σημάτων εισαγωγής. Τα χρονικά εξαρτώμενα ρεύματα που σύρονται από τις κρυσταλλολυχνίες του δικτύου κρυσταλλολυχνιών που συνδέεται με τη δύναμη διασυνδέουν το σύστημα καθορίζονται. Τα χρονικά εξαρτώμενα ρεύματα και τα διαστατικά χαρακτηριστικά που σταχυολογούνται από το σχεδιάγραμμα του ολοκληρωμένου κυκλώματος χρησιμοποιούνται για να υπολογίσουν την αιχμή, το μέσο όρο, ή τις πυκνότητες ρεύματος RMS. Οι πυκνότητες ρεύματος συγκρίνονται με electromigration τους κανόνες για να καθοριστεί ότι ποιοι τομείς της δύναμης διασυνδέουν το σύστημα μπορεί να είναι στην παραβίαση των electromigration κανόνων.

 
Web www.patentalert.com

< Sequence-based verification method and system

< Controlling presentation of a GUI, using view controllers created by an application mediator, by identifying a destination to access a target to retrieve data

> Method and apparatus for passing null references between software components through legacy framework

> Method for insertion of test points into integrated circuit logic designs

~ 00173