Method of selectively aligning and positioning nanometer-scale components using AC fields

   
   

An improved and novel method of selectively aligning and positioning nanometer-scale components using AC fields. The method provides for more precise manipulation of the nanometer-scale components in bridging test electrodes including the steps of: providing an alternating current (AC) field at a single electrode or between a plurality of electrodes to create an electric field in an environment containing nanometer-scale components. The electric field thereby providing for the aligning and positioning of the nanometer-scale components to the desired location.

Un metodo del romanzo e migliorato selettivamente di allineamento e di posizionare nanometro-regola i componenti usando i campi di CA. Il metodo prevede manipolazione più precisa del nanometro-regola i componenti nel gettare un ponte sugli elettrodi della prova compreso i punti di: fornendo un campo della corrente alternata (CA) ad un singolo elettrodo o fra una pluralità di elettrodi per generare un campo elettrico in un contenere dell'ambiente nanometro-regoli i componenti. Il campo elettrico quindi che prevede l'allineamento e posizionare del nanometro-regola i componenti alla posizione voluta.

 
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