An improvement for atomic force microscopes, more generally for light beam
detecting systems, but also in part applicable to scanning probe
microscopes, providing significant novel features and advantages.
Particular features include using different objective lens regions for
incident and reflected light, a flexure that allows three dimensional
motion of the optics block, forming the housing and optics block of a
composite material or ceramic, arranging the components so that the beam
never hits a flat surface at normal incidence, and providing a resonant
frequency of cantilever vibration greater than 850 HZ between the
cantilever and sample and the cantilever and focusing lens.
Een verbetering voor atoomkrachtmicroscopen, meer over het algemeen voor lichtstraal die systemen ontdekt, maar ook voor een deel van toepassing op de microscopen van de aftastensonde, die significante nieuwe eigenschappen en voordelen verstrekken. De bijzondere eigenschappen omvatten het gebruiken van verschillende objectieve lensgebieden voor inherent en weerspiegeld licht, een buiging die driedimensionele motie van het opticablok toestaat, dat de huisvesting en het opticablok van een samengesteld materiaal of ceramisch vormt, schikkend de componenten zodat de straal nooit een vlakke oppervlakte bij normale weerslag raakt, en het verstrekken van een resonerende frequentie van cantilever trilling groter dan 850 Herz tussen cantilever en steekproef en cantilever en het concentreren van lens.
