A system remotely collects test data from a test platform using platform
attached sensors. Identification chips, each having a unique
identification code, are each paired with an associated sensor to form
sensor/chip pairs. At least one patch panel having a plurality of
connections is positioned approximate to the platform. Connections are
communicatively linked to each of the sensor/chip pairs. A computer system
is communicatively linked to additional patch panel connections. The
identification of selected sensors is queried by a computer command to the
patch panels, and a group of sensors for a given test is identified and
selected. Test data from each of the selected sensors is transferred
through the patch panels to the computer system for collation and
generation of a test setup compatible with a data acquisition system. Test
setup information is downloaded to the data acquisition system in
preparation for the next test.
Um sistema coleta remotamente dados de teste de uma plataforma do teste usando sensores unidos plataforma. A identificação lasca-se, cada um que tem um código original da identificação, é cada uma emparelhada com um sensor associado para dar forma a pares de sensor/chip. Ao menos um painel de remendo que tem um plurality das conexões é aproximado posicionado à plataforma. As conexões são ligadas communicatively a cada um dos pares de sensor/chip. Um sistema computatorizado é ligado communicatively às conexões adicionais do painel de remendo. A identificação de sensores selecionados é perguntada por um comando do computador aos painéis de remendo, e um grupo dos sensores para um teste dado é identificado e selecionado. Os dados de teste de cada um dos sensores selecionados são transferidos através dos painéis de remendo ao sistema computatorizado para o collation e à geração de uma instalação de teste compatível com um sistema de aquisição de dados de. A informação da instalação de teste downloaded ao sistema de aquisição de dados de na preparação para o teste seguinte.
