In an electric conductivity-based replenishing system, a developer
replenishing method for a photosensitive lithographic printing plate is
provided which is capable of minimizing the fluctuations in sensitivity of
a developer with respect to the changes in development treatment
conditions. An electric conductivity value of the developer is measured in
a predetermined given cycle, when the measured electric conductivity value
of the developer is lower than the target electric conductivity value, the
developer is replenished with a predetermined amount of a developer
replenisher, the time interval between the previous supply of the
developer replenisher and the present supply of the developer replenisher
is measured, a target electric conductivity arithmetic expression is
selected based on the measured replenishment time interval and the
replenishment time interval threshold value. Using the selected target
electric conductivity value arithmetic expression and the measured
replenishment time interval, the target electric conductivity value is
updated.
In einem elektrischen Leitfähigkeit-gegründeten ergänzenden System wird eine ergänzende Methode des Entwicklers für eine lichtempfindliche lithographische Druckplatte zur Verfügung gestellt, die zur Minderung der Fluktuationen in der Empfindlichkeit eines Entwicklers in Bezug auf die Änderungen in Entwicklung Behandlungzuständen fähig ist. Ein elektrischer Leitfähigkeitwert des Entwicklers wird in einem vorbestimmten gegebenen Zyklus, wenn der gemessene elektrische Leitfähigkeitwert des Entwicklers niedriger als der elektrische Leitfähigkeitwert des Ziels ist, der Entwickler wird ergänzt mit einer vorbestimmten Menge eines Entwickler replenisher gemessen, wird der Zeitabstand zwischen dem vorhergehenden Versorgungsmaterial des Entwickler replenisher und dem anwesenden Versorgungsmaterial des Entwickler replenisher gemessen, gründete eine elektrische Leitfähigkeit des Ziels, die arithmetischer Ausdruck vorgewählt wird, auf dem gemessenen Anreicherungzeitabstand und dem Anreicherungzeitabstand Schwellenwert. Mit dem vorgewählten des elektrischen arithmetischen Ausdruck Leitfähigkeit-Wertes des Ziels und dem gemessenen Anreicherungzeitabstand ist der elektrische Leitfähigkeitwert des Ziels aktualisiert.
