Apparatus for testing integrated circuits having an integrated unit for testing digital and analog signals

   
   

An apparatus for testing digital and analog signals from an integrated circuit includes an adder or subtractor 17 for being supplied with an analog signal outputted from the integrated circuit of a device under test and a signal outputted from a driver 11, an integrator 14 for being supplied with an analog signal outputted from the adder or subtractor 17, a switch 22 for selectively transmitting an analog signal outputted from the integrator 14 and a digital signal outputted from the integrated circuit to the comparator 13, and a switch 24 for selectively transmitting a signal outputted from a memory 20 and a signal outputted from a comparator 13 to the driver 11. At least one of the switches 22, 24 is operated depending on whether a signal to be tested is analog or digital.

Прибор для испытывать цифровые и аналоговые сигналы от интегрированной цепи вклюает сумматор или subtractor 17 для быть поставленным с аналоговым сигналом outputted от интегрированной цепи приспособления под испытанием и сигнал outputted от водителя 11, интегратор 14 для быть поставленным с аналоговым сигналом outputted от сумматора или subtractor 17, переключатель 22 для селективно передавать аналоговый сигнал outputted от интегратора 14 и цифровой сигнал outputted от интегрированной цепи к компаратору 13, и переключатель 24 для селективно передавать сигнал outputted от памяти 20 и сигнал outputted от компаратора 13 к водителю 11. По крайней мере один из переключателей 22, 24 управляется в зависимости от ли сигнал быть испытанным сетно-аналогов или цифров.

 
Web www.patentalert.com

< Voltage probe

< High density, high frequency, board edge probe

> Distributed capacitive/resistive electronic device

> Variable optical slit assembly

~ 00166