State of test points on an integrated circuit are encapsulated in a
telemetry frame that is wirelessly conveyed to a test system. Test points
may be logic levels or analog levels converted into representative
multi-bit values. Conveyance off the circuit may be by radio frequency or
optical emission.
O estado de pontos de teste em um circuito integrado encapsulated em um frame da telemetria que seja feito saber wirelessly a um sistema do teste. Os pontos de teste podem ser níveis da lógica ou níveis análogos convertidos em valores representativos do multi-bocado. O conveyance fora do circuito pode ser pela freqüência de rádio ou pela emissão ótica.
