A system and method of monitoring LCD production yields, predicting the
effects of different testing methodologies on LCD production yields, and
optimizing production yields is provided that compares the effect of
different testing methodologies on the yields at various stages in the LCD
testing and assembly process. The present invention can also be used to
predict the effect of different testing methodologies on user-defined
parameters, such as profit.
Een systeem en een methode om LCD productieopbrengsten te controleren, de gevolgen te voorspellen van verschillende testende methodologieën voor LCD productieopbrengsten, en productieopbrengsten te optimaliseren worden verstrekt die het effect van verschillende testende methodologieën op de opbrengsten in diverse stadia in het LCD het testen en assemblageproces vergelijkt. De onderhavige uitvinding kan ook worden gebruikt om het effect te voorspellen van verschillende testende methodologieën op user-defined parameters, zoals winst.
