A method of testing a planar lightwave circuit is achieved by coupling an
optical probe to the planar lightwave circuit. In one embodiment, a second
probe is used in combination with the first probe to test the planar
lightwave circuit by sending and receiving a light beam through the planar
lightwave circuit.
Een methode om een vlaklightwavekring te testen wordt bereikt door een optische sonde aan de vlaklightwavekring te koppelen. In één belichaming, wordt een tweede sonde gebruikt in combinatie met de eerste sonde om de vlaklightwavekring te testen door een lichtstraal te verzenden en te ontvangen door de vlaklightwavekring.
