Method and apparatus for testing electronic devices

   
   

Test circuitry and test methods performing supply current measurement is presented. The test circuitry can be but is not limited to be on-chip. The supply current, also denoted test current, can be transient. The test circuitry and methods do not cause additional power supply voltage degradation. The test circuitry and methods provide detection capabilities for open defects, causing significant reduction of the transient supply current.

I metodi dei circuiti della prova e della prova che realizzano la misura corrente del rifornimento è presentato. I circuiti della prova possono essere ma non essere limitati per essere su-circuito integrato. Il rifornimento corrente, corrente anche denotata della prova, può essere transitorio. I circuiti ed i metodi della prova non causano la degradazione supplementare di tensione del gruppo di alimentazione. I circuiti ed i metodi della prova forniscono le possibilità di rilevazione per i difetti aperti, causanti la riduzione significativa della corrente transitoria del rifornimento.

 
Web www.patentalert.com

< Method for discriminating network domain and interworking with the same in IMT-2000 system

< Contactless acceleration switch

> Clock

> Differentiating between board-insertion power-on and chassis power-on

~ 00163