A receiver circuit for a tester for electronic devices is provided. The
receiver circuit includes a clock receiver that is adapted to receive a
source synchronous clock signal from a device under test. The receiver
circuit further includes a data receiver that is responsive to the clock
circuit. The data receiver is adapted to receive at least one differential
data signal from the device under test. The receiver circuit also includes
a trigger receiver that is responsive to the clock circuit. The trigger
receiver is adapted to receive a trigger signal from the device under
test. Finally, the receiver circuit includes a control circuit that is
coupled to the trigger receiver. The control circuit is adapted to
generate a start alignment capture signal based on the received trigger
signal to initiate capture of data received at the data receiver for
comparison with expected values.
Ein Empfängerstromkreis für eine Prüfvorrichtung für elektronische Vorrichtungen wird zur Verfügung gestellt. Der Empfängerstromkreis schließt einen Taktgeberempfänger mit ein, der angepaßt wird, um ein Quellsynchrones Taktgebersignal von einer Vorrichtung unter Test zu empfangen. Der weitere Empfängerstromkreis schließt einen Datenempfänger mit ein, der dem Taktgeberstromkreis entgegenkommend ist. Der Datenempfänger wird angepaßt, um mindestens ein differentiales Datensignal von der Vorrichtung unter Test zu empfangen. Der Empfängerstromkreis schließt auch einen Triggerempfänger mit ein, der dem Taktgeberstromkreis entgegenkommend ist-. Der Triggerempfänger wird angepaßt, um ein Triggersignal von der Vorrichtung unter Test zu empfangen. Schließlich schließt der Empfängerstromkreis einen Steuerstromkreis ein, der zum Triggerempfänger verbunden wird. Der Steuerstromkreis wird angepaßt, um ein Anfangsausrichtung Sicherung Signal zu erzeugen, das auf dem empfangenen Triggersignal, Sicherung der Daten einzuleiten basiert, die am Datenempfänger für Vergleich mit erwarteten Werten empfangen werden.
