Method and apparatus for determining the polarization properties of light emitted, reflected or transmitted by a material using a laser scanning microscope

   
   

The invention relates to a method and apparatus for determining the polarization properties of light emitted, reflected or transmitted by a material using a laser scanning microscope with the tested material being illuminated point by point with a laser beam of known polarization state. According to the invention the light beam with a polarization state modified by the material or the light emitted by the material is being examined by measuring the intensity of two different polarization components of a selected light beam received from each point of said material essentially at the same time and assigning a signal obtained by processing the two intensity signals to a respective point of an image of said material. The apparatus has a polarization state generator between the laser light source and the material being tested, and a detector in a light beam for determining the intensity of light with a polarization state modified by the material or the intensity of light emitted by the material, the improvement of which is that a means for dividing the polarization components in space or time is used in front of the detector.

De uitvinding heeft op een methode en een apparaat om de polarisatieeigenschappen betrekking van licht uitgezonden, die te bepalen door een materiaal worden weerspiegeld of worden overgebracht gebruikend een microscoop van het laseraftasten met het geteste materiaal dat verlicht punt door punt met een laserstraal van bekende polarisatiestaat is. Volgens de uitvinding wordt de lichtstraal met een polarisatiestaat die door het materiaal of het licht wordt gewijzigd dat door het materiaal wordt uitgezonden door de intensiteit van twee verschillende polarisatiecomponenten van een geselecteerde lichtstraal onderzocht te meten die van elk punt van bovengenoemd materiaal tezelfdertijd wordt ontvangen hoofdzakelijk en een signaal toe te wijzen dat door de twee intensiteitssignalen te verwerken wordt verkregen aan een respectief punt van een beeld van bovengenoemd materiaal. Het apparaat heeft een generator van de polarisatiestaat tussen de laser lichtbron en het materiaal die, en een detector in een lichtstraal voor het bepalen van de intensiteit van licht met een polarisatiestaat worden getest die door het materiaal wordt gewijzigd of de intensiteit van licht die door het materiaal wordt uitgezonden, de verbetering waarvan is dat een middel om de polarisatiecomponenten in ruimte of tijd te verdelen voor de detector wordt gebruikt.

 
Web www.patentalert.com

< Immunoassay method for lyzed whole blood

< Spatial averaging technique for ellipsometry and reflectometry

> Reflectometer arrangement and method for determining the reflectance of selected measurement locations of measurement objects reflecting in a spectrally dependent manner

> Method of inspecting grain size of a polysilicon film

~ 00162