A clamping circuit including a clamping diode, a bias line, and a clamp
line is incorporated into a pixel circuit of amorphous silicon sensor
arrays. The clamp diode in each pixel prevents the voltage across the
photodiode from dropping below a specific threshold. By keeping the
photodiode under reverse bias even under conditions that may otherwise
saturate the pixel, image lag is reduced. In full fill factor amorphous
silicon sensor arrays, a clamping circuit includes a clamp TFT, a bias
plane, a clamp line, and a drain line. The clamp TFT reduces lag and
blooming by draining off excess current developed under overexposure
conditions. A method to globally reset a sensor array and a method to test
and repair a TFT matrix in full fill factor sensor arrays without damaging
the overlying collection electrode and sensor layer are also provided.
Een het vastklemmen kring met inbegrip van een het vastklemmen diode, een bias lijn, en een klemlijn wordt opgenomen in een pixelkring van de amorfe series van de siliciumsensor. De klemdiode in elk pixel verhindert het voltage over de fotodiode te dalen onder een specifieke drempel. Door de fotodiode onder omgekeerde bias zelfs in de omstandigheden te houden die het pixel kunnen anders verzadigen, wordt de beeldvertraging verminderd. Geheel vul de sensorseries van het factoren amorfe silicium, omvat een het vastklemmen kring een klem TFT, een bias vliegtuig, een klemlijn, en een afvoerkanaallijn. De klem TFT vermindert vertraging en het bloeien door bovenmatige stroom af te voeren die in de te sterke blootstellingsomstandigheden wordt ontwikkeld. Een methode een sensorserie globaal om terug te stellen en een methode om een matrijs TFT geheel te testen en te herstellen vullen de series van de factorensensor zonder de bedekkende inzamelingselektrode te beschadigen en de sensorlaag wordt ook verstrekt.
