Reduced terminal testing system

   
   

A semiconductor wafer having dice that include circuitry that is placed into a mode when the circuitry receives an alternating signal having certain characteristics. The alternating signal may be supplied from a system controller through a probe, probe pad, and conductive path on the wafer. In a preferred embodiment, the conductive path simultaneously carries a VCC power signal and the alternating signal to the circuitry. However, the alternating signal may be carried on a conductive path different from the one carrying the VCC signal. A great deal of information may be conveyed through the alternating signal, making other signals unnecessary in controlling, testing, stressing, and repairing dice on the wafer. For example, clocking information may be conveyed through the alternating signal. The circuitry may be placed in different modes in response to different characteristics of the alternating signal. The alternating signal and a VCC power signal are received through a single contact on each die. A wafer mode controlling system includes a system controller to control application of the alternating signals and other signals to the dice on the wafer. The semiconductor wafer mode controlling system may also control a probe positioning controller including an array of probes that selectively brings the probes into contact with the probe pads, whereby the alternating signal having the certain characteristics is transmitted from the probe to the circuitry through the probe pad and conductive path and the circuitry of each of the dice is placed into the mode.

Вафля полупроводника имея плашки вклюают сети помещены в режим когда сети получают чередуя сигнал имея некоторые характеристики. Чередуя сигнал может быть поставлен от регулятора системы через зонд, пусковую площадку зонда, и проводной курс на вафлю. В предпочитаемое воплощение, проводной курс одновременно носит сигнал силы VCC и чередуя сигнал к сетям. Однако, чередуя сигнал может быть снесен на проводной курс отличающийся от одно нося сигнал VCC. Много информация может быть транспортирована через чередуя сигнал, делая другие сигналы ненужным в контролировать, испытывать, усиливать, и ремонтировать плашки на вафле. Например, хронометрируя информация может быть транспортирована через чередуя сигнал. Сети могут быть помещены в по-разному режимах in response to по-разному характеристики чередуя сигнала. Чередуя сигнал и сигнал силы VCC получены через одиночный контакт на каждой плашке. Системаа управления режима вафли вклюает регулятор системы для того чтобы контролировать применение чередуя сигналов и других сигналов к плашкам на вафле. Системаа управления режима вафли полупроводника может также контролировать зонд располагая регулятор включая блок зондов селективно кашется друг друга зонды с пусковыми площадками зонда, whereby чередуя сигнал имея некоторые характеристики передан от зонда к сетям через пусковую площадку зонда и проводной курс и сетям каждой из плашек помещает в режим.

 
Web www.patentalert.com

< Recording apparatus, motor control apparatus, and motor control method

< Open loop bi-level ballast control

> Infusion set adaptor

> Medical probe device and method

~ 00161