A scanning spot microscope for performing a Fourier spectral analysis has
means for performing a repeatable scanning operation which includes
scanning an incident light spot to successive locations of a specimen. An
interferometer is placed across an optical light path of the microscope,
the interferometer including a birefringent device between polarizing
devices in the path and introducing a given path difference. Means are
provided for receiving and recording an optical signal due to the incident
light spot from each successive specimen location. In use the given path
difference is maintained during each scanning operation but is varied
between scanning operations so that the optical signals relating to these
specimen locations and the values of the given path difference can be
recorded.
Ένα μικροσκόπιο σημείων ανίχνευσης για την εκτέλεση μιας φασματικής ανάλυσης Fourier έχει τα μέσα για μια επαναλαμβανόμενη λειτουργία ανίχνευσης που περιλαμβάνει την ανίχνευση ενός συναφούς ελαφριού σημείου στις διαδοχικές θέσεις ενός δείγματος. Ένα παρεμβαλλόμετρο τοποθετείται πέρα από μια οπτική ελαφριά πορεία του μικροσκοπίου, το παρεμβαλλόμετρο συμπεριλαμβανομένης μιας διπλοθλαστικής συσκευής μεταξύ της πόλωσης των συσκευών στην πορεία και της εισαγωγής μιας δεδομένης διαφοράς πορειών. Τα μέσα παρέχονται για τη λήψη και την καταγραφή ενός οπτικού σήματος λόγω στο συναφές ελαφρύ σημείο από κάθε διαδοχική θέση δειγμάτων. Σε χρήση η δεδομένη διαφορά πορειών διατηρείται κατά τη διάρκεια κάθε λειτουργίας ανίχνευσης αλλά είναι ποικίλη μεταξύ των διαδικασιών ανίχνευσης έτσι ώστε τα οπτικά σήματα σχετικά με αυτές τις θέσεις δειγμάτων και οι τιμές της δεδομένης διαφοράς πορειών μπορούν να καταγραφούν.
