The present invention provides systems and methods for non-destructively
detecting material abnormalities beneath a coated surface, comprising a
mid-infrared (MIR) detection unit for illuminating an area of the coated
surface and detecting light reflected from the illuminated area of the
coated surface, and a processing unit for producing an image from optical
characteristics received from the MIR detection unit. In addition, the
system may further comprise a scanning unit for moving the MIR detection
unit to a next area.
La actual invención proporciona sistemas y los métodos para non-destructively detectar anormalidades materiales debajo de una superficie revestida, abarcando una unidad mediados de-infrarroja de la detección (MIR) para iluminar un área de la superficie revestida y detectar la luz reflejada del área iluminada de la superficie revestida, y una unidad de proceso para producir una imagen de las características ópticas recibidas de la unidad de la detección del MIR. Además, el sistema puede abarcar más lejos una unidad de exploración para mover la unidad de la detección del MIR a un área siguiente.
