An integrated circuit includes a test circuit that may be configured to
generate a test signal having a predetermined pulse width in response to a
control input. The test signal may track process corners of the integrated
circuit and may be used to predict a failure of the integrated circuit.
Un circuit intégré inclut un circuit d'essai qui peut être configuré pour produire d'un signal d'essai ayant une largeur prédéterminée d'impulsion en réponse à une entrée de commande. Le signal d'essai peut dépister les coins de processus du circuit intégré et peut être employé pour prévoir un échec du circuit intégré.
