Assembly for testing silicon wafers which have a through-via

   
   

A method for filling a via formed through a silicon wafer is disclosed. The method entails mounting the silicon wafer on a mounting substrate and depositing either molten or solid balls of a conductive material into the via. The deposited conductive material may be reflowed to provide electrical contact with other components on the surface of wafer.

Показан метод для заполнять а через после того как я сформирован через вафлю кремния. Метод повлечет установить вафлю кремния на субстрате установки и депозировать или жидкие или твердые шарики проводного материала в через. Депозированный проводной материал может быть reflowed для предусмотрения электрического контакта с другими компонентами на поверхности вафли.

 
Web www.patentalert.com

< Semiconductor device and its manufacturing method

< Probing method

> Apparatus for coupling an optoelectronic device to a fiber optic cable and a microelectronic device, a system including the apparatus, and a method of forming the same

> Construction structures and manufacturing processes for integrated circuit wafer probe card assemblies

~ 00158