Authentication systems, apparatus, and methods authenticate an
identification marking including a nanocrystalline material. One or more
properties of the marking are ascertained to provide a measured profile.
The measured profile is compared to at least one member of a closed set
of reference profiles. Each reference profile has predetermined values of
one or more properties. Each reference profile is unique within the set.
At least one reference profile is characteristic of an indicator material
in a nanocrystalline morphology and non-characteristic of the same
indicator material in a bulk morphology.
I sistemi, i materiali ed i metodi di autenticazione autenticano una marcatura dell'identificazione compreso un materiale di nanocrystalline. Una o più proprietà della marcatura sono accertate di per fornire un profilo misurato. Il profilo misurato è confrontato almeno ad un membro di un insieme chiuso dei profili di riferimento. Ogni profilo di riferimento ha predeterminato i valori di una o più proprietà. Ogni profilo di riferimento è unico all'interno dell'insieme. Almeno un profilo di riferimento è caratteristico di un materiale dell'indicatore in una morfologia di nanocrystalline e non-caratteristico dello stesso materiale dell'indicatore in una morfologia all'ingrosso.
