A method of verifying a semiconductor integrated circuit apparatus includes
(a) providing a semiconductor integrated circuit apparatus including: a
first transistor which has a floating gate in which a potential is floated
and to which data is written; a second transistor which has a floating
gate connected together with the floating gate and reads out the data
written to the first transistor; and a control gate unit, which is coupled
to the floating gate, controlling an operation of reading out the data of
the second transistor; (b) comparing a first data outputted through the
second transistor when a first potential is applied to the control gate
unit with a second data outputted through the second transistor when a
second potential is applied to the control gate unit to generate a
comparison result; and (c) verifying the data written to the floating gate
based on the comparison result.
Метод проверки прибора интегрированной цепи полупроводника вклюает (a) обеспечивающ прибор интегрированной цепи полупроводника включая: первый транзистор имеет плавая строб в потенциал плын и к которые данные написаны; второй транзистор имеет плавая строб соединенный together with плавая строб и читает вне данные написанные к первому транзистору; и блок строба управления, который соединен к плавая стробу, контролируя деятельность читать из данных второго транзистора; (b) сравнивающ первые данные outputted через второй транзистор когда первый потенциал приложен к блоку строба управления с вторыми данными outputted через второй транзистор когда второй потенциал приложен к блоку строба управления произвести результат сравнения; и (c) проверяющ данные написанные к плавая стробу основанному на результате сравнения.
