An apparatus for customizing focused ion beam (FIB) probes is described.
Prior to taking probe measurements, the probe tips are milled with a beam
of gallium ions on a microlathe platform. A motor rotates the probes such
that the probe tips are uniformly milled.
Un apparecchio per adattare le sonde per il cliente messe a fuoco del fascio ionico (FIB) รจ descritto. Prima della presa delle misure di sonda, le punte della sonda sono macinate con un fascio degli ioni del gallio su una piattaforma del microlathe. Un motore ruota le sonde tali che le punte della sonda sono macinate uniformemente.
