A semiconductor memory device having a memory system and a redundancy
system including redundant elements for repairing a plurality of defects
in the memory system, comprising a plurality of address fuse sets each
including address fuses for programming a defective address in the memory
system, and a master fuse for preventing a corresponding redundant element
from being selected when the redundant element is not used, wherein at
least one master fuse is shared by at least two fuse sets among the
plurality of address fuse sets.
Een apparaat dat van het halfgeleidergeheugen een geheugensysteem en een overtolligheidssysteem met inbegrip van overtollige elementen voor het herstellen van een meerderheid die van tekorten in het geheugensysteem heeft, uit een meerderheid van adreszekering bestaat plaatst elk omvattende adreszekeringen voor de programmering van een gebrekkig adres in het geheugensysteem, en een hoofdzekering voor het verhinderen van een overeenkomstig overtollig element worden geselecteerd wanneer het overtollige element niet wordt gebruikt, waarin minstens één hoofdzekering door minstens twee zekeringsreeksen onder de meerderheid van de reeksen van de adreszekering wordt gedeeld.
