A device-under test (DUT) assembly includes a DUT board having a plurality
of spine assemblies. Each spine assembly has a first outer face, a second
outer face, and a first plurality of contacts on at least one of the first
and second outer faces in electrical contact with a subset of the first
signal lines. A connector assembly includes a plurality of clamping
assemblies arranged to receive the plurality of spine assemblies. Each
clamping assembly includes a first inner face, a second inner face, and a
second plurality of contacts on at least one of the first and second inner
faces in electrical contact with a subset of the second signal lines.
Electrical connections between the first and second contacts are formed
when the first and second inner faces of each clamping assembly are
clamped to the first and second outer faces of the corresponding spine
assembly.
Een apparaat-ondertest (DUT) assemblage omvat een raad DUT die een meerderheid van stekelassemblage heeft. Elke stekelassemblage heeft een eerste buitengezicht, een tweede buitengezicht, en een eerste meerderheid van contacten op minstens één van de eerste en tweede buitengezichten in elektrocontact met een ondergroep van de eerste signaallijnen. Een schakelaarassemblage omvat een meerderheid van het vastklemmen van assemblage die wordt geschikt om de meerderheid van stekelassemblage te ontvangen. Elke het vastklemmen assemblage omvat een eerste binnengezicht, een tweede binnengezicht, en een tweede meerderheid van contacten op minstens één van de eerste en tweede binnengezichten in elektrocontact met een ondergroep van de tweede signaallijnen. De elektro verbindingen tussen de eerste en tweede contacten worden gevormd wanneer de eerste en tweede binnengezichten van elke het vastklemmen assemblage aan de eerste en tweede buitengezichten van de overeenkomstige stekelassemblage worden vastgeklemd.
