Apparatus for electrical testing of electrical circuits includes an array
of probes arranged for selective engagement with portions of electrical
circuits to be tested, testing circuitry associated with the array of
probes for sensing electrical characteristics of the electrical circuits
engaged by the array of probes, and control circuitry associated with the
array of probes for causing engagement between selected ones of the array
of probes with selected ones of the portions of electrical circuits to be
tested. The array of probes includes at least two static probe assemblies
arranged in a fixed array, and the static probe assemblies include a
selectively positionable probe element and a probe element positioner. The
apparatus is employed to test electrical circuits during fabrication.
Η συσκευή για την ηλεκτρική δοκιμή των ηλεκτρικών κυκλωμάτων περιλαμβάνει μια σειρά ελέγχων που τακτοποιούνται για την εκλεκτική δέσμευση με τις μερίδες των ηλεκτρικών κυκλωμάτων που εξετάζονται, των στοιχείων κυκλώματος δοκιμής που συνδέονται με τη σειρά ελέγχων για την αντίληψη των ηλεκτρικών χαρακτηριστικών των ηλεκτρικών κυκλωμάτων που δεσμεύονται από τη σειρά ελέγχων, και των στοιχείων κυκλώματος ελέγχου που συνδέονται με τη σειρά ελέγχων για να αναγκάσει τη δέσμευση μεταξύ της επιλεγμένης αυτού της σειράς ελέγχων με την επιλεγμένη αυτό των μερίδων των ηλεκτρικών κυκλωμάτων για να εξεταστεί. Η σειρά ελέγχων περιλαμβάνει τουλάχιστον δύο συνελεύσεις στατικών ελέγχων που προγραμματίζονται σε μια σταθερή σειρά, και οι συνελεύσεις στατικών ελέγχων περιλαμβάνουν ένα επιλεκτικά εντοπίσιμο στοιχείο ελέγχων και positioner στοιχείων ελέγχων. Η συσκευή υιοθετείται για να εξετάσει τα ηλεκτρικά κυκλώματα κατά τη διάρκεια της επεξεργασίας.
