Perpendicular magnetic recording medium and apparatus including a soft magnetic layer, an at least 20 nm thick non-magnetic layer, and a 50-90 nm gap length

   
   

In accordance with the present invention, in a magnetic recording medium for perpendicular magnetic recording, a recording characteristic which is not inferior to that of double-layer medium and a resolution of reproduction which is not inferior to that of single layer medium are provided. On a non-magnetic substrate, a soft magnetic layer for increasing a perpendicular component of recording magnetic field in a perpendicular magnetic recording layer is formed. A non-magnetic layer for suppressing extension of signal magnetic field loop from recording magnetization in the perpendicular magnetic recording layer is formed on the soft magnetic layer. The perpendicular magnetic recording layer is formed on the non-magnetic layer. The non-magnetic layer has a thickness required to effectively reduce the signal magnetic field loop. The required thickness exceeds 20 nm.

In Übereinstimmung mit der anwesenden Erfindung in einem magnetischen Aufnahmemittel für magnetische senkrechtaufnahme, werden eine Aufnahmeeigenschaft, die nicht zu der des Doppeltschicht Mittels und der Auflösung der Wiedergabe minderwertig ist, die nicht zu der des einzelnen Schichtmittels minderwertig ist, zur Verfügung gestellt. Auf einem antimagnetischen Substrat fangen eine weiche magnetische Schicht für die Erhöhung eines Senkrechtbestandteils der Aufnahme magnetisch in einer magnetischen Aufnahmesenkrechtschicht wird gebildet auf. Eine antimagnetische Schicht für das Unterdrücken der Verlängerung des Signals magnetisch fangen Schleife von der Aufnahmemagnetisierung in der magnetischen Aufnahmesenkrechtschicht wird gebildet auf der weichen magnetischen Schicht auf. Die magnetische Aufnahmesenkrechtschicht wird auf der antimagnetischen Schicht gebildet. Die antimagnetische Schicht hat eine Stärke, die erfordert wird, um das magnetische Signal effektiv zu verringern, auffangen Schleife. Die erforderliche Stärke übersteigt 20 nm.

 
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