In a circuit with multiple Test Access Port (TAP) interfaces, the TAPs are
arranged into groups, with secondary TAPs in one or more groups and a
master TAP in another group, the master TAP having an instruction register
with bits for storing a group selection code; a Test Data Output (TDO)
circuit responsive to the group selection code connects the group TDO of
one of the groups to the circuit TDO; and, for each secondary TAP group, a
group Test Data Input (TDI) circuit responsive to a shift state signal for
selectively connecting the group TDI to the circuit TDI or to the output
of a padding register having its input connected to the circuit TDI, and
its output connected to an input of the group TDI circuit; and a group TMS
circuit responsive to a predetermined TAP selection code associated with
the group for producing a group TMS signal for each TAP in the group.
Σε ένα κύκλωμα με τις πολλαπλάσιες διεπαφές λιμένων πρόσβασης δοκιμής (TAP), τα TAPs τακτοποιούνται στις ομάδες, με δευτεροβάθμιο TAPs σε μια ή περισσότερες ομάδες και έναν κύριο TAP σε μια άλλη ομάδα, ο κύριος TAP που έχει έναν κατάλογο οδηγίας με τα κομμάτια για την αποθήκευση ενός κώδικα επιλογής ομάδας ένα κύκλωμα παραγωγής στοιχείων δοκιμής (TDO) απαντητικό στον κώδικα επιλογής ομάδας συνδέει την ομάδα TDO μια από τις ομάδες με το κύκλωμα TDO και, για κάθε δευτεροβάθμια ομάδα TAP, ένα κύκλωμα εισαγωγής στοιχείων δοκιμής ομάδας (TDI) απαντητικό σε ένα κρατικό σήμα μετατόπισης για επιλεκτικά να συνδέσει την ομάδα TDI με το κύκλωμα TDI ή με την παραγωγή ενός γεμίζοντας καταλόγου που έχει την εισαγωγή του συνδεμένη με το κύκλωμα TDI, και την παραγωγή του που συνδέεται με μια εισαγωγή του κυκλώματος ομάδας TDI και ένα κύκλωμα ομάδας TMS απαντητικό σε έναν προκαθορισμένο κώδικα επιλογής TAP που συνδέεται με την ομάδα για την παραγωγή ενός σήματος ομάδας TMS για κάθε TAP στην ομάδα.
