Methods for storing data in non-volatile memories

   
   

In methods for storing data in a non-volatile ferroelectric random access memory wherein destructive readout operations are followed by rewrite operations, identical copies of the data are stored in different memory locations that do not have any common word lines or alternative neither common word lines nor common bit lines. A first word line or a segment of a first word line is read in its entirety, said word line or said segment including at least a first copy of the identical copies of data. The data thus read are rewritten to the memory location and in addition transferred from the memory location in question to an appropriate cache location, whereafter subsequent memory locations either in the form of word lines or segments thereof are read, and data rewritten to the cache location. The operation is repeated until all identical copies of the data have been transferred to the cache storage. Subsequently bit errors are detected by comparing the identical copies in a memory control logic circuit, which also may be used for caching readout data copies or alternatively be connected with a separate cache memory. Corrected data are written back to the appropriate memory locations holding bit errors when the latter have been detected.

In den Methoden für die Speicherung von von Daten in einem permanenten ferroelectric RAM, worin zerstörende Auslesenbetriebe von den Neufassung Betrieben gefolgt werden, werden identische Kopien der Daten in den unterschiedlichen Gedächtnispositionen gespeichert, die keine allgemeinen Wortlinien oder Alternativweder allgemeine Wortlinien noch allgemeine Spitze Linien haben. Einer ersten Wortlinie oder einem Segment einer ersten Wortlinie wird innen seiner Ganzheit, besagten Wortlinie oder besagtes Segment einschließlich mindestens eine erste Kopie der identischen Kopien von Daten gelesen. Die folglich gelesenen Daten werden zur Gedächtnisposition neu geschrieben und in der Hinzufügung, die von der Gedächtnisposition in der Frage auf eine passende Pufferspeicherposition, whereafter werden folgende gebracht wird, Gedächtnispositionen entweder in der Form der Wortlinien oder der Segmente davon gelesen und Daten geschrieben zur Pufferspeicherposition neu. Der Vorgang wird wiederholt, bis alle identischen Kopien der Daten auf den Pufferspeicherspeicher gebracht worden sind. Nachher werden Spitze Störungen ermittelt, indem man die identischen Kopien in einem Gedächtnissteuerlogikstromkreis vergleicht, der für das Cachieren der Auslesendatenkopien auch benutzt werden oder mit einem unterschiedlichen Cachespeicher wechselweise angeschlossen werden kann. Behobene Daten werden zurück zu den passenden Gedächtnispositionen geschrieben, die Spitze Störungen halten, wenn die letzten ermittelt worden sind.

 
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< Semiconductor memory device

< Contact structure for semiconductor devices and corresponding manufacturing process

> Ferroelectric random access memory with isolation transistors coupled between a sense amplifier and an equalization circuit

> Detection of AIOx ears for process control in FeRAM processing

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