A non-contact probe for determining the conductivity of coating materials
is disclosed. The probe includes a free running oscillator operating at a
selected frequency, a sensor made up of an LC circuit, a detector for
detecting a change in the LC circuit in response to change in the sensor
coil induction, and a processor for converting the detected changes in the
signal to surface conductivity data. The detector may be a frequency
detector that detects changes in the resonant frequency of the LC circuit
or the detector may be a magnitude detector that detects changes in the
signal magnitude of the LC oscillator. The sensor is the coil inductor of
the LC circuit. Inductance of the sensor coil is variable depending on
conductivity of the material near the sensor coil.
Eine berührungsfreie Prüfspitze für die Bestimmung der Leitfähigkeit der beschichtenden Materialien wird freigegeben. Die Prüfspitze schließt einen freien laufenden Oszillator mit ein, der bei einer vorgewählten Frequenz funktionieren, einen Sensor gebildet von einem LC Stromkreis, einen Detektor für das Ermitteln einer Änderung im LC Stromkreis in Erwiderung auf Änderung in der Sensor-Spule Induktion und einen Prozessor für das Umwandeln der ermittelten Änderungen im Signal, aufzutauchen Leitfähigkeitdaten. Der Detektor kann ein Frequenzdetektor sein, der Änderungen in der Resonanzfrequenz des LC Stromkreises ermittelt, oder der Detektor ein Größe Detektor sein kann, der Änderungen in der Signalgröße des LC Oszillators ermittelt. Der Sensor ist die Spule Drosselspule des LC Stromkreises. Induktanz der Sensor-Spule ist abhängig von Leitfähigkeit vom materiellen nahen die Sensor-Spule variabel.
