Inductive effects in an integrated circuit device and/or system are modeled
by partitioning the integrated circuit device and/or system into multiple
windows or portions and determining a first localized inductance matrix
for a first portion of the circuit and/or system and a second localized
inductance matrix for a second portion of the circuit and/or system. The
first and second localized inductance matrices are solved to obtain first
and second localized susceptance vectors. The first and second localized
susceptance vectors may be combined to form a susceptance matrix, which
may be used directly in a susceptance-based simulator, or inverted to
obtain a sparser inductance matrix that is representative of the inductive
couplings in the entire integrated circuit device and/or system.
Индуктивные влияния в приспособлении and/or системе интегрированной цепи моделированы путем разделять приспособление and/or систему интегрированной цепи в множественные окна или части и обусловливать первую локализованную матрицу индуктивности для первой части цепи and/or системы и вторую локализованную матрицу индуктивности для второй части цепи and/or системы. Первые и вторые локализованные матрицы индуктивности разрешены для того чтобы получить сперва и во-вторых локализованные векторы susceptance. Первые и вторые локализованные векторы susceptance могут быть совмещены для того чтобы сформировать матрицу susceptance, которая может быть использована сразу в сусчептанче-osnovannom имитаторе, или перевернуты для того чтобы получить более sparser матрицей индуктивности которая будет представитель индуктивных соединений в всем приспособлении and/or системе интегрированной цепи.
