Current integrating sense amplifier for memory modules in RFID

   
   

A low read current, low power consumption sense amplifier well suited for low frequency RFID systems is disclosed. An MOS transistor receives the read current from a memory cell, typically an EEPROM, and a current mirror is formed by a parallel MOS transistor. The mirror current is integrated on a capacitor after the charge on the capacitor is cleared via a reset pulse. A time period is defined during which the voltage on the capacitor is compared to a second voltage. The second voltage is formed from a reference voltage or from dummy cells, in either case the reference voltage is at about the logic boundary between a one and zero stored in a memory cell. A comparator, with or without input hysteresis, receives the voltage on the capacitor and a second voltage and within the time period, the output state of the comparator indicates the binary contents of the memory cell.

Un livello basso ha letto l'amplificatore corrente e basso di senso dell'assorbimento di corrente di energia adatto bene per i sistemi a bassa frequenza di RFID è rilevato. Un transistore del MOS riceve la corrente indicata da una cellula di memoria, tipicamente un EEPROM e uno specchio corrente è costituito da un transistore parallelo del MOS. La corrente dello specchio è integrata su un condensatore dopo che la carica sul condensatore sia abbia eliminato via un impulso di risistemazione. Un periodo di tempo è definito où la tensione sul condensatore è confrontata ad una seconda tensione. La seconda tensione è formata da una tensione di riferimento o dalle cellule fittizie, in il uno o il altro caso la tensione di riferimento è circa al contorno di logica fra quello e zero ha immagazzinato in una cellula di memoria. Un comparatore, con o senza isteresi dell'input, riceve la tensione sul condensatore e una seconda tensione e durante il periodo di tempo, l'uscita dichiara del comparatore indica il contenuto binario della cellula di memoria.

 
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