A method and apparatus for the spectrochemical analysis of a sample in
which a solid state array detector (82) is used to detect radiation (62)
of spectrochemical interest. The invention involves the use of a shutter
(72) adjacent the entrance aperture (70) of a polychromator (74-80) to
expose the detector (82) to the radiation (62) for varying lengths of time
whereby for short duration exposure times charge accumulation in elements
(i.e. pixels) of the detector (82) due to high intensity components of the
radiation is limited and for longer exposure times charge accumulation in
elements (pixels) of the detector (82) due to feeble intesity components
of radiation (62) is increased. This ensures that each reading of the
detector (82) includes at least one exposure in which the amount of charge
accumulated at each wavelength of interest is neither too little or too
great. The problems of feeble radiation components not being accurately
measurable and of high intensity radiation components exceeding the charge
carrying capacity of elements (pixels) of the detector (82) are thereby
able to be avoided. An attenuator (90) may be placed between the radiation
source (60) and the detector (82) to permit longer exposure times to be
used for very high intensity radiation.
Een methode en een apparaat voor de spectrochemical analyse van een steekproef waarin een seriedetector in vaste toestand (82) wordt gebruikt om straling (62) van spectrochemical belang te ontdekken. De uitvinding impliceert het gebruik van een blind (72) adjacent ingangsopening (70) van een polychromator (74-80) om detector (82) aan straling (62) voor variërende tijdsduur bloot te stellen waardoor voor de korte accumulatie van de de tijdenlast van de duurblootstelling in elementen (d.w.z. pixel) van detector (82) toe te schrijven aan hoge intensiteitscomponenten van de straling beperkt is en voor langere de lastenaccumulatie van blootstellingstijden in elementen (pixel) van detector (82) toe te schrijven aan zwakke intesitycomponenten van straling wordt (62) verhoogd. Dit zorgt ervoor dat elke lezing van detector (82) minstens één blootstelling omvat waarin de hoeveelheid last die bij elke golflengte van belang wordt geaccumuleerd noch te weinig of te groot is. De problemen van zwakke stralingscomponenten die niet nauwkeurig meetbaar en van de componenten die van de hoge intensiteitsstraling het lasten laadvermogen elementen (pixel) zijn overschrijden van detector (82) kunnen daardoor worden vermeden. Een demper (90) kan tussen stralingsbron (60) en detector (82) worden geplaatst om langere blootstellingstijden toe te laten om voor zeer hoge intensiteitsstraling worden gebruikt.
