Process of parallel sample preparation

   
   

An apparatus and process for forming an array of powder samples arranged in predefined locations where all samples have a flat surface in a common plane has been developed. A monolithic block having a main support section having at least N perforations from a first surface of the main support through a second surface of the main support in predefined locations, where N is the number of samples in the array is provided. The monolithic block also has a flat support section covering the perforations of the main support section. All N samples are loaded simultaneously with sample X in perforation X of the main support where X is an integer from 1 to N. A flat surface of each sample where the flat surfaces are a common plane is formed by forcing the samples within the perforations against the flat support. The samples are retained in position within the perforations against the flat support, and are made ready for analysis since the flat surfaces of the samples are in predefined locations and are all in a common plane.

Un appareil et un processus pour former une rangée d'échantillons de poudre ont arrangé dans des endroits prédéfinis où tous les échantillons ont une surface plate dans un avion commun a été développés. Un bloc monolithique ayant une section principale de soutien avoir au moins des perforations de N d'une première surface de l'appui principal par une deuxième surface de l'appui principal dans des endroits prédéfinis, où N est le nombre d'échantillons dans la rangée est fourni. Le bloc monolithique a également une section plate de soutien couvrir les perforations de la section principale de soutien. Tous les échantillons de N sont chargés simultanément avec l'échantillon X dans la perforation X de l'appui principal où X est un nombre entier de 1 à N. Une surface plate de chaque échantillon où les surfaces plates sont un avion commun est constituée en forçant les échantillons dans les perforations contre l'appui plat. Les échantillons sont maintenus en position dans les perforations contre l'appui plat, et sont préparés pour l'analyse puisque toutes les surfaces plates des échantillons sont dans des endroits prédéfinis et sont dans un avion commun.

 
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