Material for shadow mask, method for production thereof, shadow mask and image

   
   

A material for shadow mask having the following composition of components: C.ltoreq.0.0008 wt %, Si.ltoreq.0.03 wt %, Mn:0.1 to 0.5 wt %, P.ltoreq.0.02 wt %, S.ltoreq.0.02 wt %, Al:0.01 to 0.07 wt %, N.ltoreq.0.0030 wt %, B: an amount satisfying the formula: 5 ppm.ltoreq.B-11/14.times.N.ltoreq.30 ppm, balance: Fe and inevitable impurities; a method for producing the material; a shadow mask using the material (cold rolled steel sheet); and an image receiving tube equipped with the shadow mask. The material has excellent etching characteristics, which are uniform within the same coil, and excellent press formability.

Een materiaal voor schaduwmasker dat de volgende samenstelling van componenten heeft: C.ltoreq.0.0008 gewicht %, Si.ltoreq.0.03 gewicht %, Mn:0.1 aan 0,5 gewicht %, P.ltoreq.0.02 gewicht %, S.ltoreq.0.02 gewicht %, Al:0.01 aan 0,07 gewicht %, N.ltoreq.0.0030 gewicht %, B: een bedrag dat de formule tevredenstelt: 5 ppm.ltoreq.B-11/14.times.N.ltoreq.30 p.p.m., saldo: Fe en onvermijdelijke onzuiverheden; een methode om het materiaal te produceren; een schaduwmasker dat het materiaal gebruikt (koudgewalste staalplaat); en een beeld dat buis ontvangt die met het schaduwmasker wordt uitgerust. Het materiaal heeft uitstekende etskenmerken, die binnen de zelfde rol, en uitstekende persformability eenvormig zijn.

 
Web www.patentalert.com

< Semiconductor circuit having an input protection circuit

< Matrix type ultrasonic probe and method of manufacturing the same

> Method for generating a fault signal in a voltage regulator and corresponding control circuitry for a system voltage regulator

> Magnetic detection device adapted to control magnetization of free magnetic layer by using antiferromagnetic layer, and manufacturing method for the same

~ 00138