A method and a device enters a test mode in a floppy disk drive integrated
circuit. The method and device includes a monitoring circuit and an
integrated circuit having a selecting circuit. The selecting circuit
selects a test-mode when a test mode command is received and a steady
state voltage level is reached in a predetermined time period.
Um método e um dispositivo entram em uma modalidade do teste em um circuito integrado de movimentação de disco flexível. O método e o dispositivo incluem um circuito de monitoração e um circuito integrado que têm um circuito selecionando. O circuito selecionando seleciona uma teste-modalidade quando um comando da modalidade do teste é recebido e um nível de tensão do estado constante está alcançado em um período de tempo predeterminado.
