The present invention provides an MFM or MRFM analytical device comprising
a micro-dimensional probe that is capable of detecting single proton and
single electron spin. Furthermore, it provides an MFM or MRFM device
comprising a micro-dimensional probe, that is capable of detecting
magnetic structures of size of order one nanometer. In particular, the
present invention provides a micro-dimensional probe for an MFM or MRFM
device that comprises a CNT cantilever that comprises a nanoscale
ferromagnetic material. The CNT cantilever can be attached to an
electrode as a component of a microscopic probe which is coupled with an
electrical circuit as a component of a device for nanoscale MFM or MRFM
micro-dimensional probes. The device comprising the probe and electrical
circuit can be incorporated into an existing scanning probe microscope
(SPM) apparatus having accommodation for electrical readout.
Η παρούσα εφεύρεση παρέχει μια αναλυτική συσκευή MFM ή MRFM περιλαμβάνοντας έναν μικροϋπολογιστής-διαστατικό έλεγχο που είναι σε θέση το ενιαίο πρωτόνιο και την ενιαία περιστροφή ηλεκτρονίων. Επιπλέον, παρέχει ένα MFM ή η συσκευή MRFM που περιλαμβάνει έναν μικροϋπολογιστής-διαστατικό έλεγχο, αυτός είναι σε θέση τις μαγνητικές δομές του μεγέθους της διαταγής ένα nanometer. Ειδικότερα, η παρούσα εφεύρεση παρέχει έναν μικροϋπολογιστής-διαστατικό έλεγχο για μια συσκευή MFM ή MRFM που περιλαμβάνει cantilever CNT που περιλαμβάνει ένα σιδηρομαγνητικό υλικό nanoscale. Cantilever CNT μπορεί να συνδεθεί με ένα ηλεκτρόδιο ως συστατικό ενός μικροσκοπικού ελέγχου που συνδέεται με ένα ηλεκτρικό κύκλωμα ως συστατικό μιας συσκευής για τους μικροϋπολογιστής-διαστατικούς ελέγχους MFM ή MRFM nanoscale. Η συσκευή που περιλαμβάνει τον έλεγχο και το ηλεκτρικό κύκλωμα μπορεί να ενσωματωθεί σε μια υπάρχουσα συσκευή μικροσκοπίων ελέγχων ανίχνευσης (SPM) που έχει τη στέγαση για την ηλεκτρική ανάγνωση.
