A method for inspecting a component includes exciting a number of
transducers forming an array to produce an ultrasonic transmission beam
(beam) focused into the component. The array and the component are
separated by a standoff. A number of echo signals are generated using the
transducers, and the echo signals are processed in a number of channels.
The processing includes both dynamical focus and providing a dynamic
aperture on receive, both of which compensate for refraction of the beam
at the component/standoff interface. A single-turn inspection method
includes: (a) positioning the array facing the component, (b) exciting the
transducers, (c) generating a number of echo signals, (d) changing the
relative angular orientation of the array and the component around an axis
and repeating steps (b) and (c), and (e) processing the echo signals to
form at least one processed echo signal.
Un metodo per il controllo del componente include eccitare un certo numero di trasduttori che formano un allineamento per produrre un fascio ultrasonico della trasmissione (fascio) messo a fuoco nel componente. L'allineamento ed il componente sono separati da una colonnetta. Un certo numero di segnali di eco sono generati per mezzo dei trasduttori ed i segnali di eco sono proceduti in un certo numero di scanalature. L'elaborazione include sia il fuoco dinamico che fornendo un'apertura dinamica sopra ricevi, entrambi cui compensano la rifrazione del fascio all'interfaccia di component/standoff. Singolo-giri il metodo di controllo include: (a) posizionando l'allineamento che affronta il componente, (b) eccitando i trasduttori, (c) generando un certo numero di segnali di eco, (d) cambiando l'orientamento angolare relativo dell'allineamento ed il componente intorno ad un asse e ripetendo i punti (b) e (c) e (e) procedendo l'eco segnala alla forma almeno un segnale proceduto di eco.
