A balance resistance is connected to each probe pin and a probe card check
wire is provided on each probe pin, and thus a wafer test and chip test
with application of high current can be performed, and further, a
maintenance of a probe card is facilitated.
Une résistance d'équilibre est reliée à chaque goupille de sonde et un fil de carte-chèque de sonde est fourni sur chaque goupille de sonde, et ainsi un essai de gaufrette et l'essai de morceau avec l'application haut de courant peuvent être réalisés, et autre, un entretien d'une carte de sonde est facilité.
