CMOS sequential logic configuration for an edge triggered flip-flop

   
   

A CMOS sequential logic circuit for an edge triggered flip-flop to lower power consumption in very large scale integrated (VLSI) circuit designs is disclosed. The circuit includes a plurality of PMOS transistors and a plurality of NMOS transistors. The PMOS and NMOS transistors are matched and joined as a data-sampling front end and a data-transferring back end to provide an output based on an input signal fed to a pair of transistor gates. Outputs from the pair of transistor gates charge and discharge internal nodes which connect the data-sampling front end to the data-transferring back end. The internal nodes also include a first latch that connects to a first internal node, and a second latch that connects to a second internal node. The latches prevent a floating voltage state for each of the first and second internal nodes and reduce power consumption during flip-flop transitions.

Ein CMOS, den aufeinanderfolgende Koinzidenzschaltung für einen Rand Flip-Flop auslöste, um Leistungsaufnahme in integrierten (VLSI) Schaltungsentwürfen der sehr großen Skala zu senken, wird freigegeben. Der Stromkreis schließt eine Mehrzahl der PMOS Transistoren und eine Mehrzahl der NMOS Transistoren ein. Die PMOS und NMOS Transistoren werden als Daten-Musterstück vorderes Ende und Daten-bringendes rückseitiges Ende zusammengebracht und verbunden, um einen Ausgang zur Verfügung zu stellen, der auf einem Eingangssignal basiert, das zu einem Paar Transistorgattern eingezogen wird. Ausgänge vom Paar der Transistorgatter laden auf und entladen interne Nullpunkte, die das Daten-Musterstück vordere Ende an das Daten-bringende rückseitige Ende anschließen. Die internen Nullpunkte schließen auch eine erste Verriegelung, die an einen ersten internen Nullpunkt anschließt, und eine zweite Verriegelung mit ein, die an einen zweiten internen Nullpunkt anschließt. Die Verriegelungen verhindern einen sich hin- und herbewegenden Spannung Zustand für jeden der ersten und zweiten internen Nullpunkte und verringern Leistungsaufnahme während der Flip-Flop Übergänge.

 
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