A cross line is formed on the surface of the peripheral portion of an
electrode substrate so as to cross a source line array with a gate
insulating film interposed in between. If a display failure such as a line
defect is found in a dynamic operating inspection that is performed after
mounting of a driver LSI, a crossing portion of the cross line and a
source line as a failure occurring position is irradiated with YAG laser
light, whereby the source line concerned and the cross line are connected
to each other. Then, an output waveform of the driver LSI is measured by
contacting a prober that is connected to an oscilloscope into contact with
a cross line electrode.
Una línea cruzada se forma en la superficie de la porción periférica de un substrato del electrodo para cruzar una línea fuente arsenal con una película aislador de la puerta interpuesta mientras tanto. Si una falta de la exhibición tal como una línea defecto se encuentra en una inspección de funcionamiento dinámica que se realice después del montaje de una LSI del conductor, una porción de la travesía de la línea cruzada y de una línea fuente como posición que ocurre de la falta se irradia con la luz laser de YAG, por el que la línea fuente referida y la línea cruzada estén conectadas el uno al otro. Entonces, una forma de onda de la salida de la LSI del conductor es medida entrando en contacto con un prober que esté conectado con un osciloscopio en contacto con una línea cruzada electrodo.
