Semiconductor device having improved trench structure

   
   

Trenches for defining chip areas are formed on the surface of a semiconductor substrate so that outlines of side walls of each of the trenches have recesses or protrusions. Then, a sputtering film is so formed as to be continuous in an area bridging the surface of each of the chip areas and the inside surface of each of the trenches, and the semiconductor substrate is diced along lines outside the trenches.

Шанцы для определять зоны обломока сформированы на поверхности субстрата полупроводника так, что планы бортовых стен каждого из шанцов будут иметь гнезда или выступания. После этого, пленка sputtering поэтому сформировано о будьте непрерывн в области наводя поверхность каждой из зон обломока и внутреннюю поверхность каждого из шанцов, и субстрат полупроводника diced вдоль линий вне шанцов.

 
Web www.patentalert.com

< Light-receiving element, light-receiving element array and light-receiving module and method for high frequency characteristics

< Films deposited at glancing incidence for multilevel metallization

> Low noise inductor using electrically floating high resistive and grounded low resistive patterned shield

> Packaging substrate with electrostatic discharge protection

~ 00125