Techniques for measuring a contact potential difference of a sample at an
elevated temperature using a probe designed for room temperature
measurement are disclosed. In such measurements, probe damage by excessive
heating can be prevented without any probe modifications to include probe
cooling. This can be achieved by minimizing the time the probe spends in
close proximity to the heated sample. Furthermore, the effect of probe
heating by the sample on the probe reading can be corrected by including
an additional contact potential difference measurement of a reference
plate kept at room temperature in the measurement cycle.
Οι τεχνικές για μια πιθανή διαφορά επαφών ενός δείγματος σε μια ανυψωμένη θερμοκρασία που χρησιμοποιεί έναν έλεγχο που σχεδιάζεται για τη μέτρηση θερμοκρασίας δωματίου αποκαλύπτονται. Σε τέτοιες μετρήσεις, η ζημία ελέγχων με την υπερβολική θέρμανση μπορεί να αποτραπεί χωρίς οποιεσδήποτε τροποποιήσεις ελέγχων για να περιλάβει την ψύξη ελέγχων. Αυτό μπορεί να επιτευχθεί με την ελαχιστοποίηση του χρόνου που ο έλεγχος ξοδεύει στη στενή εγγύτητα στο θερμαμένο δείγμα. Επιπλέον, η επίδραση της θέρμανσης ελέγχων από το δείγμα στην ανάγνωση ελέγχων μπορεί να διορθωθεί με τη συμπερίληψη μιας πρόσθετης μέτρησης διαφοράς επαφών πιθανής ενός πιάτου αναφοράς που κρατιέται στη θερμοκρασία δωματίου στον κύκλο μέτρησης.
