A computer groups failing paths of a simulated, analyzed integrated
circuit. The failing paths are listed and include series connected nodes
having names. The node names are represented as node patterns and grouped
into node pattern sets. The computer: (1) determines the node pattern in
the node pattern set that is most likely to fail in response to a measure
of probability of failure of a node pattern in a path on the failing path
list, (2) creates a failing path set containing the paths most likely to
fail based on the determination of (1), and (3) iterates until each path
on the list is in a failing path set by using paths not placed in a
failing path set and node patterns not determined to be most likely to
fail.
Een computer groepeert ontbrekende wegen van een gesimuleerde, geanalyseerde geïntegreerde schakeling. De ontbrekende wegen zijn vermeld en omvatten reeks verbonden knopen die namen hebben. De knoopnamen worden vertegenwoordigd als knooppatronen en in de reeksen van het knooppatroon gegroepeerd. De computer: (1) bepaalt het knooppatroon in het geplaatste knooppatroon dat waarschijnlijk in antwoord op een maatregel van waarschijnlijkheid van mislukking van een knooppatroon in een weg op de ontbrekende weglijst zal ontbreken, (2) creëert een ontbrekende wegreeks die de wegen die bevat waarschijnlijk zal ontbreken gebaseerd op de bepaling van (1), en (3) herhaalt tot elke weg op de lijst in een ontbrekende weg die door wegen wordt geplaatst niet te gebruiken die in een ontbrekende van de wegreeks en knoop patronen worden niet die worden bepaald geplaatst om zal waarschijnlijk ontbreken is.
