A chip repair system designed for automated test equipment independent
application on many unique very dense ASIC devices in a high turnover
environment is disclosed. During test, the system will control on chip
built-in self-test (BIST) engines collect and compress repair data,
program fuses and finally decompress and reload the repair data for post
fuse testing. In end use application this system decompresses and loads
the repair data at power-up or at the request of the system.
Ein Spanreparatursystem, das für automatisierte unabhängige Anwendung des Testgeräts auf vielen einzigartigen sehr dichten ASIC Vorrichtungen in einem hohen Umsatzklima bestimmt ist, wird freigegeben. Während des Tests steuert das System auf Span, den eingebaute Selbsttest Maschinen (BIST) Reparaturangaben sammeln und zusammendrücken, Programmsicherungen und schließlich dekomprimiert und lädt die Reparaturangaben für die Pfostensicherung Prüfung neu. In der Verwendunganwendung dekomprimiert dieses System und lädt die Reparaturangaben am Power-up oder auf Bitten von dem System.
