Active matrix display device and inspection method therefor

   
   

When a first transistor for switching Tr1 is ON by a gate signal, a voltage signal in accordance with a data voltage signal input to the source terminal of the first transistor Tr1 is held in a storage capacitor. A second transistor Tr2 controls an amount of current supplied to an emissive element from a power source line PVdd in accordance with the voltage signal, and a charge is accumulated in an additional capacitor C2 in accordance with the amount of current thus controlled. Defect inspection corresponding to the actual display state can be performed by examining the charge accumulated in the additional capacitor C2.

Quando um primeiro transistor para o switching Tr1 é SOBRE por um sinal da porta, um sinal da tensão de acordo com uma entrada de sinal da tensão dos dados ao terminal de fonte do primeiro transistor Tr1 está prendido em um capacitor do armazenamento. Um segundo transistor Tr2 controla uma quantidade de corrente fornecida a um elemento emissive de uma linha de fonte PVdd do poder de acordo com o sinal da tensão, e uma carga é acumulada em um capacitor adicional C2 de acordo com a quantidade de corrente controlada assim. A inspeção do defeito que corresponde ao estado real da exposição pode ser executada examinando a carga acumulada no capacitor adicional C2.

 
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